一：
x荧光技术百科
问题1：X射线荧光谱与伽马能谱的区别
x荧光答：是指物质原子经X射线(激发能量)照射后,原子内层电子被击出,变成激发态,在退激过程中,外层电子会补充到内层,由此产生的能量差以X射线的方式发射出来这个X射线俗称x荧光同时原子序数不同,需要的激发能量不同,产生的X荧光。
问题2：现场X荧光测量方法
答：随着X荧光仪器、设备及工作方法的不断改进和完善，野外X荧光测量已经成为一种在现场快速评价及查证异常的有效方法。表4-5列出了部分化学元素在各类岩石中的平均含量及野外X荧光测量的分析检出限，对于大多数元素，检出限值已经。
问题3：X荧光光谱仪对人体有哪些危害?
x荧光答：应该是使用X-射线（X-Ray）的机器吧，在慢性小剂量连续照射的情况下，会造成慢性放射损伤，主要由于X线职业人员平日不注意防护，较长时间接受超允许剂量所引起的。电离辐射不仅能引起全身性急慢性放射损伤，而且也能引起局部的。
问题4：X荧光光谱仪的分类
x荧光答：X荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。以X荧光的波粒二象性中波长特征为原理的称为波长色散型，以能量特征为原理的称为能量色散型。
问题5：样品分析的X荧光方法
x荧光答：标准工作曲线的制作是：选一套含量由低到高的标准样品，其元素组成与待测样品相近似，在与样品测量相同的条件下进行测量；获得标准样品含量与X荧光计数率的校正曲线，由此曲线就可以根据相同条件下的样品测量的荧光计数率，在。
问题6：x射线荧光分析仪的辐射对人体危害大吗?
答：第一:能量色散型的X射线有低功率X射线管或者放射源产生，现在一般不会有什么问题的，特别是X光管产生X射线的，不会有问题，但是用放射源的要注意防护第二:波长色散X荧光光谱仪，特别是现在几千瓦的仪器，在安装、维修中要。
问题7：X射线荧光光谱仪
答：X荧光分析是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试技术,已广泛应用于宝石矿物、材料科学、地质研究、文物考古等诸多领域。一、基本原理X射线是一种波长(λ=0001～10nm)很短的电磁波,其波长介于紫外线和y射线之间。在高真空的X。
问题8：X射线荧光谱与伽马能谱的区别
x荧光答：产生的X荧光射线能量也不同X射线荧光谱分析仪真是利用这一特点来分析物质中各种元素的含量伽马能谱是直接对放射性同位素进行测量分析的仪器,主要针对放射性物质或装置辐射量进行测量比如说测量建筑材料中的镭钍钾。
问题9：X荧光辐射对人体的辐射有多大,危害有哪些
答：一种是能量色散型，一种是波长色散型。第一：能量色散型的X射线有低功率X射线管或者放射源产生，现在一般不会有什么问题的，特别是X光管产生X射线的，不会有问题，但是用放射源的要注意防护第二：波长色散X荧光光谱仪。
问题10：X射线荧光分析的方法特点
x荧光答：X射线荧光分析法的特点与适应范围是（1）适应范围广除了H，He，Li，Be外，可对周期表中从5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。（2）操作快速方便在短时间内可同时完成多种元素的分析。（3）不受试样形状和大小的。
二：
x荧光技术资料
问题1：X射线荧光光谱法
x荧光答：方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为05%～80%的。
问题2：X射线荧光的产生
答：释放出来的能量以电磁波的形式向四周发射，其波长恰好在X射线的波长范围内(0001～10nm)。为了与照射物质的X射线(初级X射线)相区别，将被照射物质发出的X射线(二次X射线)称为荧光X射线(荧光即光致发光之意)。对于K层。
问题3：x射线荧光能谱能不能测出c含量
x荧光答：莫斯莱(HGMoseley)发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z-s)-2这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性。
问题4：荧光效应:能帮我简述X先透视原理吗?看这些字我还是不知道X线透视的原
x荧光答：X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的。
问题5：X射线荧光激发效率
答：在实际工作中，X射线荧光激发是一种宏观现象，是光子束照射在厚层样品或原物质层表面(土壤、岩石、金属非金属物体等)，都是照射在许多原子上，在内壳层产生光电效应(和散射)的总结果。这些入射光子和受激发元素的荧光，都要。
问题6：X射线荧光光谱法测定铝土矿中主、次、痕量元素
答：表505各元素组分测定范围仪器波长色散X射线荧光光谱仪，端窗铑靶X射线管(3kW以上)。具有校准、校正功能完备分析软件。高温熔样机(温度1150℃以上)。铂金合金坩埚(Pt95%+Au5%)。试剂混合熔剂:四硼酸锂(67%)和偏。
问题7：请问XRF—X射线荧光光谱法与ICP—等离子光谱法的主要区别是什么?哪个更
答：XRF是X荧光光谱。分为波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF），检测信号都是二次X射线，波长色散型是通过晶体将不同波长的射线分开，达到分辨特征谱线的效果，而能谱是通过检测器对能级的不同进行分辨，就现在技术。
问题8：x射线荧光作用形成原理
答：余下的空穴会由更外层的电子进行补充。在电子补充（跃迁）的过程中，会以光子形式辐射出能量，这种光子就形成了X荧光。当这种荧光被探测器检测到时，我们就能看到样品中各元素的组成成份。
问题9：用X射线荧光分析仪能分析碳含量和硼含量吗?
x荧光答：原则上都可以。---对轻原子像C,B等，更方便的是用俄歇谱。
问题10：X射线荧光激发效率
答：在实际工作中，X射线荧光激发是一种宏观现象，是光子束照射在厚层样品或原物质层表面（土壤、岩石、金属非金属物体等），都是照射在许多原子上，在内壳层产生光电效应（和散射）的总结果。这些入射光子和受激发元素的荧光。
三 ：